Fischer XDL-B膜厚仪(不升降）
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品介绍
XDL系列仪器配备了比列计数管探测器，适用于质量控制，来料检验和生产监控。由于它测量空间大，故而适合测量有复杂几何形状的大尺寸样品。XDL系列不仅可以配置简单样品平台，还可以配置不同的XY工作台，因而可用于自动化批量测量。
设计用途
能量色散X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXRF）用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。
元素范围
从元素氯（17）到铀（92）
配有可选的WinFTM软件时，最多可同时测定24种元素
应用领域
测量大规模生产的电镀零部件
测量微小区域上的薄镀层
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量，如测量印刷线路板
高压
三档：30Kv,40Kv,50kv
孔径
0.3mm 可选0.3*0.05mm